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CMI920 X-射线荧光膜厚测试仪,在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业
1：CMI 920 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层 （银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定***多5层、15 种元素。
2 ：***度领先于世界，***到0。025mil (相对与标准片)
3：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ； 如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
4 ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、***小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
1.测量元素范围：钛Ti22---*U92；
2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
3.测量精度高、稳定性好，测量结果**至μin；
4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
6.进行贵金属检测，如Au karat评价；
7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；
10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
12.拥有NIST认证的标准片；
牛津920镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
牛津920镀层测厚仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
提供全球24小时不间断服务。
